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Microscopie Electronique à Balayage (MEB) et microanalyse X

Nanoélectronique / Conception

Cette formation vise à permettre l’utilisation d’un microscope électronique à balayage et découvrir les techniques de la microanalyse X.

Stage soutenu par l'IRT Nanoelec.

Elle s’appuie sur les moyens techniques de Grenoble INP au travers de sa plateforme de caractérisation des matériaux CMTC, qui regroupe de nombreux MEB, notamment deux MEB FEG de dernière génération tous équipés de systèmes d’analyses EDS.

Public cible :

Ingénieurs, chercheurs ou techniciens amenés à mettre en œuvre la microanalyse X ou à en exploiter les résultats, et disposant de connaissances de base sur la structure de la matière (niveau bac+2).

Compétences développées :

- Connaître les phénomènes physiques associés aux interactions électrons-matière, ainsi que leur description théorique
- Découvrir les principes de fonctionnement et les technologies d’un Microscope Electronique à Balayage (MEB) et d’un système de spectrométrie X à sélection d’énergie (EDS)
- Acquérir les bases pratiques et choisir les conditions opératoires optimales pour une utilisation efficace du MEB et d’un système de spectrométrie X à sélection d’énergie (EDS)
- Savoir interpréter correctement les images réalisées au MEB et les résultats de l’EDS

Catégorie :

Formation continue - bac+2

Durée de formation :

5 jours

Le + : Une formation axée pour moitié sous forme de travaux pratiques en petits groupes, avec un accès à une grande variété d’instruments et un large panel d'échantillons pour se familiariser avec les divers modes d’imagerie et d'analyse. Intervenants : ingénieurs de la plateforme CMTC et chercheurs au laboratoire SIMAP
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IRT NANOELEC FORMATION17 rue des Martyrs
38054 Grenoble cedex 9

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Un programme conduit par :

GEMbaselineCCI grand format blanc 300dpi      Grenoble INP Logo blanc RVB

 

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