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Caractérisation de couches minces par rayons X

Nanoélectronique / Conception

La diffraction des rayons X et la réflectométrie X sont des techniques de caractérisation non destructives, très répandues et puissantes, permettant de corréler les paramètres d’élaboration aux propriétés structurales et physiques des matériaux en couches minces.

Stage soutenu par l'IRT Nanoelec.

Moyens mis à disposition :

CMTC : plateforme de caractérisation des matériaux regroupant différents diffractomètres de rayons X, notamment un PANalytical X’Pert PRO MPD doté des optiques adaptées à ces techniques
- Intervenants : ingénieurs permanents de la plateforme CMTC et du CEA LETI, spécialistes de ces techniques d’analyse.

Stage proposé par Grenoble INP en collaboration avec l’INSTN

Public cible :

Chercheurs, ingénieurs, techniciens supérieurs de laboratoires publics ou industriels, travaillant dans le domaine des matériaux, souhaitant mettre en œuvre ces techniques de caractérisation des couches minces par rayons X ou en exploiter les résultats.

Compétences développées :

- Connaître les principes physiques associés aux techniques de diffraction des rayons X et de réflectométrie X
- Appréhender les spécificités des mesures de diffraction des rayons X en incidence rasante et de réflectivité X sur les films minces
- Etre en mesure de choisir les conditions opératoires les mieux adaptées au matériau étudié
- Savoir traiter et interpréter les données expérimentales

Catégorie :

Formation continue - bac+2

Durée de formation :

3,5 jours

Le + : Formation pratique. Etude d’un panel d'échantillons variés pour se familiariser avec les diverses conditions opératoires + possibilité de travailler sur son propre échantillon.
Nanoelec Formations

IRT NANOELEC FORMATION17 rue des Martyrs
38054 Grenoble cedex 9

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Un programme conduit par :

GEMbaselineCCI grand format blanc 300dpi      Grenoble INP Logo blanc RVB

 

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